SEB4雙晶探頭 探傷儀探頭

SEB4探頭特點： 

用于探測棒材、坯塊、桿等中心缺陷的標準探頭。經常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體）中預期區域內缺陷的探測（如氣孔、微孔和熱裂縫）。更適合于用作與物體平面平行的缺陷區域精確范圍的確定（如層狀結構缺陷、渣孔及厚鋼板中的他隔線）。

具體型號有：

SEB1、SEB1-EN、SEB2、SEB2-EN、SEB2- O°、SEB4、SEB4-EN、 SEB4- O°、SEB4-EN- SEB2-EN-O°

雙晶直探頭主要應用：

通常：近表面的小缺陷探測和評估。焦點內大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測。剩余壁厚的測量（即使在高溫情況下）。

l 壁厚余量，銹蝕、腐蝕

l 近表缺陷檢測

l 小零件—螺釘，螺栓，銷釘

l 覆層和堆焊層

l 粘接檢測

l 軸，桿，方坯芯部缺陷

l 粗晶材料

雙晶探傷儀直探頭主要特性：

l 近表分辨率

l 與曲面和粗糙面耦合好

l 散射噪聲較小

l 對曲面工件也能沿其輪廓進行檢測

l 歐款有側裝Lemo 00連接口，SEB..KF型Microdot側裝

l 美款有固定BNC電纜（ADP）或側裝MMD（FDU）

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