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產品名稱：標準試塊 超聲波探傷標定試塊
產品型號：CSK-IA IIIA
更新時間：2023-12-16
產品特點：CSK-IA標準試塊 超聲波探傷標定試塊 超聲波探傷使用 全系列試塊*
CSK-IA IIIA標準試塊 超聲波探傷標定試塊的詳細資料：
CSK-IA標準試塊 超聲波探傷標定試塊
技術參數：
執行標準JB/T4730-2005
材質:45號鋼
毛坯種類:鍛打件
熱處理狀態:正火處理。
超聲波標準試塊檢測報告：
超聲波標準試塊檢測報告 | |||
1 | 本體材料化學成分 | 主要化學成分應符合GB699 | 合格 |
2 | 本體材料晶粒度 | 本材料經正火處理后，晶粒度應達到7級以上。 | 合格 |
3 | 本材料內部缺陷 | 使用5MHZ直探頭，對試塊進行接觸法超聲波探傷，不得出現大于對比試塊DB-PZ2-2平底孔回波幅度1/4的缺陷回波。 | 合格 |
4 | 折射角度偏差 | 使用2.5MHZ、折射角為45度的斜探頭檢測時,不得超出±2度 | 合格 |
5 | 有機玻璃鑲嵌件縱波傳播時間 | 長溫下,有機玻璃23mm厚度縱波傳播時間相當與20（45）號鋼50mm厚度的縱波時間 | 合格 |
6 | R100圓弧面中心位置偏差 | 使用2.5MHZT 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出±0.5mm | 合格 |
7 | R100圓弧面回波幅度偏差 | 使用2.5MHZ和 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出1.5dB | 合格 |
8 | 外觀及表面粗糙度 | 外觀光滑無明顯劃傷,碰傷,銹蝕等缺陷,表面粗糙度探測面不得低于Ra3.2,其余Ra6.3 | 合格 |
9 | 幾何尺寸,行位公差 | 尺寸.公差±0.1 各邊垂直度不大于0.05 | 合格 |
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